Бази даних


Наукова періодика України - результати пошуку


Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (1)Реферативна база даних (54)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій



Пошуковий запит: (<.>A=Фодчук И$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 11
Представлено документи з 1 до 11
1.

Докторович И. В. 
Влияние нестабильности потока излучения ртутных ламп на калибровку приборов [Електронний ресурс] / И. В. Докторович, И. М. Фодчук, В. К. Бутенко, В. Н. Годованюк, В. В. Рюхтин, В. Г. Юрьев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. - 2006. - № 1. - С. 54-57. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/TKEA_2006_1_16
Попередній перегляд:   Завантажити - 771.634 Kb    Зміст випуску     Цитування
2.

Баловсяк С. В. 
Многоуровневый метод повышения локального контраста и удаления неоднородного фона изображений [Електронний ресурс] / С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук, Ю. Н. Соловей, Я. В. Луцик // Кибернетика и вычислительная техника. - 2015. - Вып. 182. - С. 15-26. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Kivt_2015_182_3
На основе многоуровневого подхода разработан метод повышения локального контраста и удаления неоднородного фона изображений с использованием нижней и верхней огибающих сигнала. Созданы алгоритмы для размещения локальных окон на изображении и коррекции огибающих сигнала. Тестирование разработанного метода на примере моделированных и медицинских рентгеновских изображений показало его высокую точность и быстродействие.
Попередній перегляд:   Завантажити - 653.227 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
3.

Фодчук И. М. 
Рентгенодифракционные изображения микроцарапин, представленных в виде многорядных распределений сосредоточенных сил [Електронний ресурс] / И. М. Фодчук, С. Н. Новиков, Я. М. Струк, И. В. Фесив // Металлофизика и новейшие технологии. - 2013. - Т. 35, № 5. - С. 711-723. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2013_35_5_15
Исследованы особенности формирования рентгеновских муаровых изображений, возникающие при действии одномерных рядов локальных сосредоточенных сил на исходную поверхность анализатора трехкристального LLL-интерферометра для случаев их ориентации параллельно и перпендикулярно вектору дифракции. Наличие постоянного фазового сдвига в одной из интерферирующих волн в анализаторе интерферометра приводит к уменьшению периода, контрастности и размера области формирования деформационных муаровых полос. Область эффективного взаимодействия фазового и деформационного муара зависит не только от величины постоянного фазового сдвига, а также от величины и характера расположения локальных сосредоточенных сил в рядах.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.263 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
4.

Фодчук И. М. 
Влияние высокодозового облучения ионами N+ на кристаллическую структуру Y2,95La0,05Fe5O12 [Електронний ресурс] / И. М. Фодчук, И. И. Гуцуляк, Р. А. Заплитный, И. П. Яремий, А. Ю. Бончик, И. И. Сыворотка // Металлофизика и новейшие технологии. - 2013. - Т. 35, № 7. - С. 993-1004. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2013_35_7_13
С помощью методов рентгеновской дифрактометрии с высоким разрешением исследована структура приповерхностных слоев эпитаксиальных пленок лантанзамещенных железоиттриевых гранатов до и после высокодозовой имплантации ионами азота. Путем выбора моделей дефектной системы, содержащих несколько типов доминирующих микродефектов и нарушенный приповерхностный слой, установлен ход структурных преобразований, вызванных ионным облучением. Показано, что под действием высокодозовой имплантации ионами азота перестройка кристаллической структуры в эпитаксиальных пленках Y2,95La0,05Fe5O12 приводит к уменьшению ширины линии ферромагнитного резонанса.
Попередній перегляд:   Завантажити - 383.771 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
5.

Борча М. Д. 
Определение структурной неоднородности кристаллов по данным анализа картин Кикучи [Електронний ресурс] / М. Д. Борча, С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук, В. Ю. Хоменко, В. Н. Ткач // Металлофизика и новейшие технологии. - 2013. - Т. 35, № 8. - С. 1135-1148. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2013_35_8_13
Продемонстрированы возможности метода Кикучи в исследовании неоднородного распределения деформаций в образцах искусственных кристаллов алмаза, выращенных при различных технологических условиях. Показаны перспективы использования геометрических параметров дифракционных картин Кикучи для определения изменения периода решетки. Использован корреляционный метод и его программная реализация определения деформаций дифракционных изображений пересечений линий Кикучи и минимизации субъективных факторов. Оптимальный выбор ядра корреляции обеспечивает высокую точность определения смещений деталей изображений. В результате определены локальные изменения структурной однородности искусственных алмазов и относительные изменения периода кристаллической решетки.Предложен новый подход к определению локальных деформаций в кристаллах по картинам дифракции обратно отраженных электронов (картинам Кикучи) с использованием метода гистограмм и метода дискретного двухмерного Фурье-преобразования. Определена анизотропия в распределении локальных деформаций на поверхности образцов алмаза, полученных методом температурного градиента в системе Fe - Al - C и методом наращивания в среде Mg - C + бор на поверхности монокристалла алмаза статического синтеза (Ni - Mn - C).
Попередній перегляд:   Завантажити - 999.948 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
6.

Фодчук И. М. 
Рентгеновская дифрактометрия структуры легированных лантаном железо-иттриевых гранатов после ионной имплантации [Електронний ресурс] / И. М. Фодчук, В. В. Довганюк, И. И. Гуцуляк, И. П. Яремий, А. А. Бончик, Г. В. Савицкий, И. М. Сыворотка, Е. Г. Скакунова // Металлофизика и новейшие технологии. - 2013. - Т. 35, № 9. - С. 1209-1222. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2013_35_9_8
С помощью методов высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии проведены исследования структурных изменений в приповерхностных слоях эпитаксиальных пленок Y2,95La0,05Fe5O12 до и после высокодозовой имплантации ионов азота. Проведено моделирование карт обратного пространства с использованием статистической кинематической теории дифракции. Определены количественные характеристики дефектной структуры пленок. Показано, что распыление и аморфизация приповерхностного слоя в процессе высокодозовой имплантации ионами азота активирует диффузионные процессы, которые приводят к значительным изменениям магнитных свойств пленок и существенному уменьшению ширины линии ферромагнитного резонанса.
Попередній перегляд:   Завантажити - 747.749 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
7.

Борча М. Д. 
Локальные деформации в окрестности трещины сварочного шва никелевого сплава, определённые с помощью Фурье-преобразования картин Кикучи [Електронний ресурс] / М. Д. Борча, А. В. Звягинцева, В. М. Ткач, К. А. Ющенко, С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук, В. Ю. Хоменко // Металлофизика и новейшие технологии. - 2013. - Т. 35, № 10. - С. 1359-1370. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2013_35_10_7
Исследованы образцы сварных соединений никелевых сплавов NiCrFe, содержащих трещины. Используя картины дифракции обратно отражённых электронов, полученные в сканирующем электронном микроскопе, определены деформации в локальных участках каждого образца в зависимости от расстояния до трещины, а также от распределения химических элементов, полученного с помощью рентгеноспектрального микроанализа.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.716 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
8.

Баловсяк С. В. 
Ориентированная фильтрация цифровых электронно-дифракционных изображений [Електронний ресурс] / С. В. Баловсяк, Я. Д. Гарабажив, И. М. Фодчук // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. - 2016. - № 3. - С. 4–13. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/recs_2016_3_3
Разработана математическая модель, способ и программное обеспечение для выделения пространственных областей (полос) из их суперпозиции на цифровых электронно-дифракционных изображениях, а также для последующей ориентированной фильтрации изображений полос. Краевые эффекты, которые возникают при пространственном выделении полосы, уменьшены за счет создания вокруг полосы переходной области. Использовано симметричное расширение изображений полос под заданным углом, что уменьшает искажения при фильтрации изображений. На основе экспериментальных и моделированных изображений полос определено оптимальные параметры их фильтрации. Ориентированная фильтрация экспериментальных изображений полос в перспективе позволяет повысить точность электронно-дифракционных методов, предназначенных для исследования кристаллов.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.099 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
9.

Борча М. Д. 
Распределение локальных деформаций в кристаллах алмаза по данным анализа профилей интенсивности линий Кикучи [Електронний ресурс] / М. Д. Борча, С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук, В. Ю. Хоменко, В. Н. Ткач // Сверхтвердые материалы. - 2013. - № 4. - С. 34-42. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/sm_2013_4_4
Предложен способ определения деформаций в кристаллах алмаза по анализу полос дифракции отраженных электронов на картинах Кикучи с использованием метода гистограмм. Определена анизотропия в распределении локальных деформаций на поверхности двух образцов алмаза, полученных методом температурного градиента в системе Fe - Al - C и методом наращивания в среде Mg - C + бор на поверхности монокристалла алмаза статического синтеза (Ni - Mn - C).
Попередній перегляд:   Завантажити - 666.804 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
10.

Борча М. Д. 
Локальные деформации в кристаллах алмаза, определенные с помощью Фурье-преобразования картин Кикучи [Електронний ресурс] / М. Д. Борча, С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук, В. Ю. Хоменко, О. П. Кройтор, В. Н. Ткач // Сверхтвердые материалы. - 2013. - № 5. - С. 39-48. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/sm_2013_5_4
Предложена новая методика определения локальных деформаций в кристаллах по картинам дифракции обратно отраженных электронов (картинам Кикучи) с использованием дискретного двумерного Фурье-преобразования. Данная методика апробирована при исследовании образцов алмаза, синтезированных при различных условиях. Полученные результаты хорошо согласуются с данными других методов.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.097 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
11.

Фодчук И. М. 
Распределение локальных деформаций в синтетических кристаллах алмаза из анализа параметров энергетического спектра картин Кикучи [Електронний ресурс] / И. М. Фодчук, С. А. Ивахненко, В. Н. Ткач, С. В. Баловсяк, М. Д. Борча, Н. С. Солодкий, И. И. Гуцуляк, А. Р. Кузьмин, О. В. Сумарюк // Надтверді матеріали. - 2020. - № 1. - С. 3-12. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/sm_2020_1_3
Исследовано деформационное состояние локальных областей в окрестности трещин в сварном шве никелевого сплава. Предложена методика определения компонент тензора локальных деформаций в отдельных зернах поликристаллических образцов. Диагональные компоненты тензора определялись по изменениям распределений интенсивности отдельных полос, другие компоненты - из смещения осей зон относительно их положений на эталонной картине Кикучи. Построены характеристические поверхности тензоров деформаций, а также проанализированы особенности их планарного распределения в окрестностях трещин сварных швов.Определена средняя деформация в локальных областях синтетического алмаза с помощью энергетического Фурье-спектра при анализе цифровых картин Кикучи. Степень размытия дифракционных полос и их пересечений на изображениях, вызванных деформациями, количественно описаны через средний пространственный период и площадь радиального распределения энергетического спектра. Планарное распределение локальных деформаций позволило определить их анизотропию в кристалле по величине и направлению.Определена средняя деформация в локальных областях синтетического алмаза с помощью энергетического Фурье-спектра при анализе цифровых картин Кикучи. Степень размытия дифракционных полос и их пересечений на изображениях, вызванных деформациями, количественно описаны через средний пространственный период и площадь радиального распределения энергетического спектра. Планарное распределение локальных деформаций позволило определить их анизотропию в кристалле по величине и направлению.
Попередній перегляд:   Завантажити - 991.389 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського